符合条件的产品总数：123
3M Clean-Trace 3M 表面蛋白快速检测棒
- 检测原理
- 利用化学发光法检测表面残留蛋白
- 检测目标
- 表面蛋白残留
- 检测时间
- 约15秒（视操作流程而定）
三翔 SX系列 铁矿石分析仪器
- 仪器类型
- 铁矿石元素分析仪
- 分析方法
- 视配置而定（如X射线荧光、光电直读等）
- 可分析元素
- 铁及多种杂质元素（视配置而定）
三翔 SX-S3B 不锈钢分析仪
- 分析元素范围
- 依据配置不同可分析多种不锈钢常见元素
- 分析方法
- 视配置而定（如光电直读光谱法或X荧光法）
- 检测通道
- 可选配置，通道数影响可同时分析的元素数量
三翔 SX-SN 铝合金化验仪器
- 仪器类型
- 铝合金化验分析仪器
- 检测原理
- 光电比色法或分光光度法（视配置）
- 测量范围
- 视配置和检测元素而定
联创 LC-BS6E 多通道合金元素分析仪
- 分析通道数
- 多通道设计，支持多个元素同时分析
- 可测元素
- 视配置而定，常用于合金中常见元素如硅、锰、磷、铬、镍等
- 分析原理
- 光电比色法或类似光学检测方法
联创 LC-8 电脑多元素联测分析仪
- 检测原理
- 光电比色法（视配置而定）
- 可测元素种类
- 多元素（如锰、磷、硅、铬、镍、钼等，视配置而定）
- 检测通道数
- 视配置而定
WT HJ2000 金相图象分析系统
- 系统类型
- 金相图像分析系统
- 图像采集
- 支持多种显微镜接口
- 分析功能
- 金相组织定量分析、晶粒度评级等
高能科迪 KD4096型 低本底多道γ能谱仪
- 探测器类型
- NaI(Tl)闪烁探测器（可选其他类型）
- 多道分析器道数
- 4096道
- 能量范围
- 20 keV ~ 3 MeV（视配置而定）
高能科迪 KD4096 低本底多道γ能谱仪
- 探测器类型
- 碘化钠NaI(Tl)闪烁探测器（可选其他）
- 能量范围
- 20 keV ~ 3 MeV（视配置）
- 能量分辨率
- 对137Cs（662 keV）优于8%（视配置）
高能科迪 LB系列 多路低本底αβ测量仪
- 测量类型
- α射线、β射线
- 探测器类型
- 塑料闪烁体探测器
- 信号通道数
- 多通道（可选）